No. 4050 NABON

Para nivelaciones de 1er orden, nivelaciones muy precisas de depresiones del terreño, medición de deformaciones como para mediciones de ingeniería altamente precisas en la construcción de máquinas y de aviones. Anteojo muy luminoso (abertura del objetivo 50 mm) con gran aumento (42x), lectura del nivel de anteojo por coincidencia óptica (8“/2 mm) en el campo visual del instrumento. Micrómetro con placa plana paralela desmontable (zona de medición, 5 mm,lectura 0,05 mm), error medio según DIN 18723 +/- 0,2 mm/km.

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Mira de INVAR de 3 m, dividida en 1/2 cm No. 03786 Caja de transporte para 2 miras de INVAR No. 03790 Gran asiento de mira, 5 kg. No. 3547 NABON, pero con placa plana paralela para mediciones industriales, zona de medición +/- 2 mm, lectura 0,02 mm No. 4760 Escala de precisión, longitud 250 mm, graduación 2 mm, apropiada a placas paralelas para mediciones industriales No. 564 Soporte magnético para escala de precisión No. 562